전자선 및 전자렌즈를 사용해 재료(금속, 반도체, 세라믹 등)의 미세조직 분석하는 장비.

고전압으로 가속된 전자빔이 시료를 투과하며 그에 따라 형성되는 상과 회절상을 통하여 시편 내부의 미세구조 및 결정구조, 화학적 성분등의 정보를 얻는 장비

시편의 중심부분을 이온빔으로 깎아서 시편을 얇게 만드는 장비

다양한 재료(금속, 반도체, 고분자 등)의 미세조직 관찰용 시편 제작을 위한 표면 연마

시편의 중심부에 전해연마액을 분사하여 녹여냄으로서 미세조직 분석용 시편의 최종 경면 연마 장비

시료표면을 에칭할 수 있으며, 가속된 전자빔이 시편을 통과할 때 시편의 손상을 방지하고 빔의 흐름을 좋게하는 Coation을 할수 있는 장비

전자선 및 전자렌즈를 사용해 재료(금속, 반도체, 세라믹 등)의 미세조직 분석하는 장비

고전압으로 가속된 전자빔이 시료를 투과하며 그에 따라 형성되는 상과 회절상을 통하여 시편 내부의 미세구조 및 결정구조, 화학적 성분등의 정보를 얻는 장비

주로 매우 가늘게 집속한 이온빔을 재료표면에 주사(scanning)하여 발생한 전자/원자를 검출하여 현미경상을 관찰하거나 재료표면을 가공하는 장비

전자선 및 전자렌즈를 사용해 재료(금속, 반도체, 세라믹 등)의 미세조직 분석하는 장비

Scattering을 이용 하므로 시료 전처리 작업이 필요 없고 detector 변화 없이 신속하게 anti-stokes range내의 spectrum을 얻을 수 있는 장비

시료주입 장치에 의해 주입된 시료를 고온, 진공의 상태에서 적당한 이온화 방법으로 이온화 시킨후 사중극자장치로 분리하여 물질의 정성, 정량을 분석하는 장비

Photoluminescence는 photon, 빛 (특히 가시광선)을 이용하여 에너지를 방출하며, 에너지 구조나 불순물의 전자상태를 측정하는 장비

시료의 무게를 정확히 측정하여 고온에서 연소시켜 화합물내의 원소들을 각각 산화와 환원반응을 시킨 후 컬럼을 통해 분리하여 C,H,N,O,S 의 함량 분석하는 장비

적외선 영역의 빛의 파장을 변화시키면서 시료(고체, 액체, 기체)에 조사하여 그 물질 고유의 흡수 투과 및 반사율을 측정하여 IR spectrum을 얻고자 할때, fourier transform을 이용하여 빠르게 측정할

시료에 자외선 또는 가시광선을 입사시켜 이때 시료가 흡수하는 빛의 양을 측정

시료주입 장치에 의해 주입된 시료를 고온, 진공의 상태에서 적당한 이온화 방법으로 이온화 시킨후 사중극자장치로 분리하여 물질의 정성, 정량을 분석하는 장비

Photoluminescence는 photon, 빛 (특히 가시광선)을 이용하여 에너지를 방출하며, 에너지 구조나 불순물의 전자상태를 측정하는 장비

물리흡착 및 화학흡착 현상을 이용하여 시료의 소재에 관계없이 분말 또는 괴상이 갖고 있는 비표면적을 측정하는 장비

분말시료의 입자 크기 및 크기분포를 측정하는 장비