장비예약현황

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일자	요일	예약현황
2026-09-01	화	산소/질소/수소 분석기10:00~11:00[대기] 장비명[분석용]산소/질소/수소 분석기 예약일시2026-09-01 10:00:00 ~ 2026-09-01 11:00:00 [대기] 예약자최정원 (시리에너지) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~11:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-01 10:00:00 ~ 2026-09-01 11:00:00 [대기] 예약자이경목 (파이널텍) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~13:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-01 10:00:00 ~ 2026-09-01 13:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)11:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-01 11:00:00 ~ 2026-09-01 14:00:00 [대기] 예약자성재민 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-01 12:00:00 ~ 2026-09-01 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 ONH분석기13:00~15:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-01 13:00:00 ~ 2026-09-01 15:00:00 [대기] 예약자박상철 (포스코어) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-01 14:00:00 ~ 2026-09-01 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Ali Siddique (Korea Institute of Industrial Technology) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-01 14:00:00 ~ 2026-09-01 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~00:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-01 18:00:00 ~ 2026-09-02 00:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-02	수	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)07:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-02 07:00:00 ~ 2026-09-02 14:00:00 [대기] 예약자경동원 (국가희소금속센터) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-02 10:00:00 ~ 2026-09-02 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 ONH분석기11:00~23:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-02 11:00:00 ~ 2026-09-02 23:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (KITECH) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-02 12:00:00 ~ 2026-09-02 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 X-선 형광분석기13:00~16:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2026-09-02 13:00:00 ~ 2026-09-02 16:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-02 14:00:00 ~ 2026-09-02 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Ali Siddique (Korea Institute of Industrial Technology) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-02 14:00:00 ~ 2026-09-02 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 C/S분석기14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]C/S분석기 예약일시2026-09-02 14:00:00 ~ 2026-09-02 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~00:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-02 18:00:00 ~ 2026-09-03 00:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~00:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-02 18:00:00 ~ 2026-09-03 00:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-03	목	X선 회절분석기(HT-XRD)09:00~12:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-03 09:00:00 ~ 2026-09-03 12:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)09:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-03 09:00:00 ~ 2026-09-03 14:00:00 [대기] 예약자정세린 (한국생산기술연구원) 실험목적 통전활성소결장치(Spark Plasma Sintering)09:00~17:00[대기] 장비명[공정용]통전활성소결장치(Spark Plasma Sintering) 예약일시2026-09-03 09:00:00 ~ 2026-09-03 17:00:00 [대기] 예약자한정우 (한국생산기술연구원) 실험목적 중대형부품제조용 방전플라즈마소결장치10:00~17:00[대기] 장비명[공정용]중대형부품제조용 방전플라즈마소결장치 예약일시2026-09-03 10:00:00 ~ 2026-09-03 17:00:00 [대기] 예약자이윤재 (메탈메이트) 실험목적 X-선 형광분석기10:00~13:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2026-09-03 10:00:00 ~ 2026-09-03 13:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (KITECH) 실험목적 C/S분석기10:00~18:00[대기] 장비명[분석용]C/S분석기 예약일시2026-09-03 10:00:00 ~ 2026-09-03 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 ONH분석기11:00~23:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-03 11:00:00 ~ 2026-09-03 23:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (KITECH) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)12:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-03 12:00:00 ~ 2026-09-03 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 X-선 형광분석기13:00~16:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2026-09-03 13:00:00 ~ 2026-09-03 16:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)13:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-03 13:00:00 ~ 2026-09-03 18:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~20:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-03 14:00:00 ~ 2026-09-03 20:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-03 14:00:00 ~ 2026-09-03 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-03 18:00:00 ~ 2026-09-03 22:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)20:00~00:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-03 20:00:00 ~ 2026-09-04 00:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-04	금	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)09:00~12:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-04 09:00:00 ~ 2026-09-04 12:00:00 [대기] 예약자정세린 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-04 10:00:00 ~ 2026-09-04 14:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (KITECH) 실험목적 유도결합플라즈마(ICP-MS)11:00~14:00[대기] 장비명[분석용]유도결합플라즈마(ICP-MS) 예약일시2026-09-04 11:00:00 ~ 2026-09-04 14:00:00 [대기] 예약자백소현 (한국생신기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-04 12:00:00 ~ 2026-09-04 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~21:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-04 14:00:00 ~ 2026-09-04 21:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)15:00~20:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-04 15:00:00 ~ 2026-09-04 20:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-05	토	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-05 14:00:00 ~ 2026-09-05 18:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)16:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-05 16:00:00 ~ 2026-09-05 23:00:00 [대기] 예약자백소현 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-06	일	X선 회절분석기(HT-XRD)16:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-06 16:00:00 ~ 2026-09-06 23:00:00 [대기] 예약자백소현 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-07	월	전동식 열간 트윈롤 압연기10:00~13:00[대기] 장비명[공정용]전동식 열간 트윈롤 압연기 예약일시2026-09-07 10:00:00 ~ 2026-09-07 13:00:00 [대기] 예약자권상원 (넥스플러스) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-07 10:00:00 ~ 2026-09-07 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 ONH분석기10:00~13:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-07 10:00:00 ~ 2026-09-07 13:00:00 [대기] 예약자박상철 (포스코어) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-07 14:00:00 ~ 2026-09-07 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Ali Siddique (Korea Institute of Industrial Technology) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-07 14:00:00 ~ 2026-09-07 18:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-07 14:00:00 ~ 2026-09-07 18:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-07 18:00:00 ~ 2026-09-07 22:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~01:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-07 18:00:00 ~ 2026-09-08 01:00:00 [대기] 예약자한정우 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-08	화	통전활성소결장치(Spark Plasma Sintering)09:00~17:00[대기] 장비명[공정용]통전활성소결장치(Spark Plasma Sintering) 예약일시2026-09-08 09:00:00 ~ 2026-09-08 17:00:00 [대기] 예약자한정우 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)09:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-08 09:00:00 ~ 2026-09-08 14:00:00 [대기] 예약자안성재 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)09:00~15:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-08 09:00:00 ~ 2026-09-08 15:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 X-선 형광분석기10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2026-09-08 10:00:00 ~ 2026-09-08 14:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-08 12:00:00 ~ 2026-09-08 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-08 14:00:00 ~ 2026-09-08 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Ali Siddique (Korea Institute of Industrial Technology) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)15:00~17:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-08 15:00:00 ~ 2026-09-08 17:00:00 [대기] 예약자한정우 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)17:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-08 17:00:00 ~ 2026-09-08 23:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)19:00~23:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-08 19:00:00 ~ 2026-09-08 23:00:00 [대기] 예약자백소현 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-09	수	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)09:00~12:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-09 09:00:00 ~ 2026-09-09 12:00:00 [대기] 예약자허성규 (고등기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)09:30~11:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-09 09:30:00 ~ 2026-09-09 11:00:00 [대기] 예약자한정우 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)11:00~10:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-09 11:00:00 ~ 2026-09-10 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적 ONH분석기11:00~23:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-09 11:00:00 ~ 2026-09-09 23:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)12:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-09 12:00:00 ~ 2026-09-09 14:00:00 [대기] 예약자금윤형 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-09 12:00:00 ~ 2026-09-09 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-09 14:00:00 ~ 2026-09-10 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적 C/S분석기14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]C/S분석기 예약일시2026-09-09 14:00:00 ~ 2026-09-09 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-10	목	통전활성소결장치(Spark Plasma Sintering)09:00~17:00[대기] 장비명[공정용]통전활성소결장치(Spark Plasma Sintering) 예약일시2026-09-10 09:00:00 ~ 2026-09-10 17:00:00 [대기] 예약자한정우 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~12:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-10 10:00:00 ~ 2026-09-10 12:00:00 [대기] 예약자백소현 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-10 10:00:00 ~ 2026-09-10 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 ONH분석기11:00~23:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-10 11:00:00 ~ 2026-09-10 23:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (KITECH) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-10 12:00:00 ~ 2026-09-10 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)12:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-10 12:00:00 ~ 2026-09-10 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 C/S분석기13:00~18:00[대기] 장비명[분석용]C/S분석기 예약일시2026-09-10 13:00:00 ~ 2026-09-10 18:00:00 [대기] 예약자원경운(강민재) (인하대학교) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-10 14:00:00 ~ 2026-09-11 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~15:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-10 14:00:00 ~ 2026-09-10 15:00:00 [대기] 예약자이경목 (파이널텍) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)15:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-10 15:00:00 ~ 2026-09-10 22:00:00 [대기] 예약자한정우 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-11	금	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-11 10:00:00 ~ 2026-09-11 14:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~10:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-11 10:00:00 ~ 2026-09-14 10:00:00 [대기] 예약자김종태 (한국생산기술연구원) 실험목적 산소/질소/수소 분석기13:00~18:00[대기] 장비명[분석용]산소/질소/수소 분석기 예약일시2026-09-11 13:00:00 ~ 2026-09-11 18:00:00 [대기] 예약자원경운(강민재) (인하대학교) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~16:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-11 14:00:00 ~ 2026-09-11 16:00:00 [대기] 예약자정세린 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)16:00~23:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-11 16:00:00 ~ 2026-09-11 23:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-12	토	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~09:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-12 14:00:00 ~ 2026-09-14 09:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-13	일
2026-09-14	월	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)09:00~12:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-14 09:00:00 ~ 2026-09-14 12:00:00 [대기] 예약자김세훈 (주식회사 파이널텍) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~17:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-14 10:00:00 ~ 2026-09-14 17:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-14 12:00:00 ~ 2026-09-14 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-14 14:00:00 ~ 2026-09-14 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)17:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-14 17:00:00 ~ 2026-09-14 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-14 18:00:00 ~ 2026-09-14 22:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-14 18:00:00 ~ 2026-09-14 22:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-14 22:00:00 ~ 2026-09-15 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-15	화	X선 회절분석기(HT-XRD)09:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-15 09:00:00 ~ 2026-09-15 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)09:00~14:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-15 09:00:00 ~ 2026-09-15 14:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-15 10:00:00 ~ 2026-09-15 14:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (KITECH) 실험목적 ONH분석기13:00~15:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-15 13:00:00 ~ 2026-09-15 15:00:00 [대기] 예약자박상철 (포스코어) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-15 14:00:00 ~ 2026-09-15 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Ali Siddique (Korea Institute of Industrial Technology) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-15 14:00:00 ~ 2026-09-15 18:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-15 18:00:00 ~ 2026-09-15 22:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-15 18:00:00 ~ 2026-09-15 22:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-15 22:00:00 ~ 2026-09-16 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-16	수	X선 회절분석기(HT-XRD)09:00~11:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-16 09:00:00 ~ 2026-09-16 11:00:00 [대기] 예약자김자운 (한국생산기술연구원) 실험목적 ONH분석기09:00~13:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-16 09:00:00 ~ 2026-09-16 13:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~13:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-16 10:00:00 ~ 2026-09-16 13:00:00 [대기] 예약자원경운 (인하대학교) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)11:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-16 11:00:00 ~ 2026-09-16 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-16 12:00:00 ~ 2026-09-16 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 ONH분석기13:00~18:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-16 13:00:00 ~ 2026-09-16 18:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-16 14:00:00 ~ 2026-09-16 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-16 14:00:00 ~ 2026-09-16 18:00:00 [대기] 예약자류동희 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-16 18:00:00 ~ 2026-09-16 22:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-16 18:00:00 ~ 2026-09-16 22:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-16 22:00:00 ~ 2026-09-17 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-17	목	X선 회절분석기(HT-XRD)09:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-17 09:00:00 ~ 2026-09-17 18:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 ONH분석기11:00~23:00[대기] 장비명[분석용]ONH분석기 예약일시2026-09-17 11:00:00 ~ 2026-09-17 23:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (KITECH) 실험목적 C/S분석기14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]C/S분석기 예약일시2026-09-17 14:00:00 ~ 2026-09-17 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-17 14:00:00 ~ 2026-09-17 18:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-17 18:00:00 ~ 2026-09-17 22:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-17 18:00:00 ~ 2026-09-17 22:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-17 22:00:00 ~ 2026-09-18 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-18	금	X선 회절분석기(HT-XRD)09:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-18 09:00:00 ~ 2026-09-18 18:00:00 [대기] 예약자배성욱 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-18 10:00:00 ~ 2026-09-18 18:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)10:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-18 10:00:00 ~ 2026-09-18 18:00:00 [대기] 예약자한슬기 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-18 18:00:00 ~ 2026-09-18 22:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-18 18:00:00 ~ 2026-09-18 22:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-18 22:00:00 ~ 2026-09-21 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-19	토	X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-19 10:00:00 ~ 2026-09-19 18:00:00 [대기] 예약자조명우 (국가희속금속센터) 실험목적
2026-09-20	일
2026-09-21	월	유도결합플라즈마(ICP-MS)10:00~12:00[대기] 장비명[분석용]유도결합플라즈마(ICP-MS) 예약일시2026-09-21 10:00:00 ~ 2026-09-21 12:00:00 [대기] 예약자심재홍 (어플라이드사이언스) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-21 10:00:00 ~ 2026-09-21 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-21 10:00:00 ~ 2026-09-21 14:00:00 [대기] 예약자최시우 (한국생산기술연구원) 실험목적 산소/질소/수소 분석기10:00~11:00[대기] 장비명[분석용]산소/질소/수소 분석기 예약일시2026-09-21 10:00:00 ~ 2026-09-21 11:00:00 [대기] 예약자최정원 (시리에너지) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-21 12:00:00 ~ 2026-09-21 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-21 14:00:00 ~ 2026-09-21 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-21 18:00:00 ~ 2026-09-21 22:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-21 18:00:00 ~ 2026-09-21 22:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-21 22:00:00 ~ 2026-09-22 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-22	화	X-선 형광분석기10:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2026-09-22 10:00:00 ~ 2026-09-22 23:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-22 12:00:00 ~ 2026-09-22 18:00:00 [대기] 예약자한슬기 (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)13:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-22 13:00:00 ~ 2026-09-22 18:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-22 18:00:00 ~ 2026-09-22 22:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-22 18:00:00 ~ 2026-09-22 22:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-22 22:00:00 ~ 2026-09-23 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-23	수	유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)10:00~12:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-23 10:00:00 ~ 2026-09-23 12:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (UST KITECH School) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-23 10:00:00 ~ 2026-09-23 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)12:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-23 12:00:00 ~ 2026-09-23 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-23 14:00:00 ~ 2026-09-23 18:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-23 18:00:00 ~ 2026-09-23 22:00:00 [대기] 예약자핫산 무하마드 (한국생산기술연구원) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-23 18:00:00 ~ 2026-09-23 22:00:00 [대기] 예약자Muhammad Hassan (KITECH) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~11:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-23 22:00:00 ~ 2026-09-25 11:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-24	목
2026-09-25	금	FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)17:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-25 17:00:00 ~ 2026-09-28 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-26	토
2026-09-27	일
2026-09-28	월	X선 회절분석기(HT-XRD)09:00~18:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-28 09:00:00 ~ 2026-09-28 18:00:00 [대기] 예약자Haroon Kamal (KITECH) 실험목적 X-선 형광분석기10:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2026-09-28 10:00:00 ~ 2026-09-28 23:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-28 10:00:00 ~ 2026-09-28 14:00:00 [대기] 예약자김명석 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-28 14:00:00 ~ 2026-09-28 18:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (UST KITECH School) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-28 14:00:00 ~ 2026-09-28 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Ali Siddique (UST) 실험목적 X선 회절분석기(HT-XRD)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-28 18:00:00 ~ 2026-09-28 22:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-28 18:00:00 ~ 2026-09-28 22:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)22:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-28 22:00:00 ~ 2026-09-29 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-29	화	X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-29 10:00:00 ~ 2026-09-29 23:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 X-선 형광분석기10:00~23:00[대기] 장비명[분석용]X-선 형광분석기 예약일시2026-09-29 10:00:00 ~ 2026-09-29 23:00:00 [대기] 예약자김동은 (한국생산기술연구원) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)13:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-29 13:00:00 ~ 2026-09-29 18:00:00 [대기] 예약자배성욱 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-29 14:00:00 ~ 2026-09-29 18:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (UST KITECH School) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~10:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-29 18:00:00 ~ 2026-09-30 10:00:00 [대기] 예약자정주리 (한국생산기술연구원) 실험목적
2026-09-30	수	X선 회절분석기(HT-XRD)10:00~14:00[대기] 장비명[분석용]X선 회절분석기(HT-XRD) 예약일시2026-09-30 10:00:00 ~ 2026-09-30 14:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적 유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]유도결합 플라즈마 광방출 분광기 (ICP-OES) 예약일시2026-09-30 14:00:00 ~ 2026-09-30 18:00:00 [대기] 예약자BURHAN FEBRINAWARTA (UST KITECH School) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)14:00~18:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-30 14:00:00 ~ 2026-09-30 18:00:00 [대기] 예약자Muhammad Ali Siddique (Korea Institute of Industrial Technology) 실험목적 FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경)18:00~22:00[대기] 장비명[분석용]FE-SEM, EBSD(전계방사주사전자현미경) 예약일시2026-09-30 18:00:00 ~ 2026-09-30 22:00:00 [대기] 예약자임동혁 (한국생산기술연구원) 실험목적

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